贝克曼库尔特公司新一代 LS 13 320 XR 将激光衍射粒度分析仪提升到了一个更高的水平，升级版 PIDS 专利技 术（发明专利：4953978，5104221）、优化的132枚检测器，保证了仪器分辨率更高，结果更准确，再现性更 好。您不仅可以测量粒径范围更宽的颗粒，而且可以更快、更可靠地检测到颗粒粒径间极细微的差异。并且新软 件的操作界面更加直观，仅需点击几次便可获得您需要的数据。
新一代激光衍射粒度分析仪 LS 13 320 XR
LS 13 320 XR激光衍射粒度分析仪是一款全自动、高准确性、高分辨率、高重现性以及操作非常简单的干湿两用粒 度分析仪，采用全程Mie光散射理论并提供Fraunhofer理论模型。LS 13 320 XR配备有多种新型的样品进样模块， “即插即用”，满足不同的分析要求，灵活便利；专利的PIDS技术（发明专利：4953978，5104221），真正实现 10nm粒径测量；直观的软件和触摸屏设计，大大简化了仪器的操作。LS 13 320 XR将为您开启全新的测量体验！
超高分辨率
不论单峰、双峰还是多峰，不论纳米、微米还是纳微米，均可实现高分 辨率的检测
宽测量范围：10nm-3500µm
提供真实（峰值）、高分辨率的测试数据，下限低至 10nm，上限高达 3500µm
升级版 PIDS 技术：更好解决纳米测量挑战
提高原始数据检测精度，提高检测器检测垂直和水平偏振散射光的灵敏 度，真正实现亚微米级粒度分析 - 以往极难达到的测量能力
多峰自动检测
测量前无需估计粒度分布情况（比如多峰、窄分布），便可获得真实的 测量结果
简单、直观的操作软件
• 从开始测量到获得结果仅需 2 次点击
• 包含一个集成的光学常数数据库
• 随时向您通报有用的用户诊断报告
• 精简的工作流不仅易于使用，更节省时间
数据完整性及合规性
FDA的《电子记录和电子签名规则》 （21 CFR 第 11 部分）规定了提交电 子文件的要求。选择软件的最高安全 等级，系统将自动调节以下配置，以 符合该法规要求：
• 电子签名
• 用户安全登录
• 用户权限
• 审查跟踪
• 错误日志文件
• 管理配置工具
验证
这是《生产质量管理规范（GMP）》和其它法规要求所必须的。 LS 13 320 XR激光衍射粒度分布分析仪配备符合GMP要求的验证程序，可满足安装验证（IQ）和运行验证（OQ） 所需。

简单易用的软件 简化您的日常工作
导航轮 显示和导出数据仅需点击 1 次。 
比以往更高效的粒度分析
LS 13 320 XR 软件的功能界面更加直观，非常易于使用，您无需具备大量的操作知识便可轻松获得准确 的数据。
开始测量
检测方法一旦在LS 13 320 XR软件中设定，仅需点击2次便 可开始测量。选择预先设定的方法，编辑样品信息，然后点 击开始测量。
仪器自检
仪器配备有自检诊断功能，测试过程中随时显示测量情况。
自动合格/不合格管理，实现直接质控
为检验样品合格/不合格，LS 13 320 XR软件自动对测量结果 标注绿色或红色，提示其是否符合所需规格。因此，无论操 作人员经验如何，均可通过该功能迅速了解样品质量情况。 
导航轮
显示和导出数据仅需点击 1 次。 

重磅创新 帮助您准确测量细微差异
细节尤为重要！样本间极细微的差异，会导致成品间出现巨大差异。 这也是为什么 LS 13 320 XR 激光衍射粒度分布分析仪采用 132 枚检测器的原因，其可以提供更高的分辨率，获得更 准确的检测结果，同时实现 10 nm - 3500 µm 的宽范围测量。
X-D阵列检测器 - 确保高分辨率的准确测量
• 特殊设计X型对数排布检测器阵列，可以准确记录散射光强信号，获得 真实准确的粒度分布
• 132枚检测器能够清晰区分不同粒度等级间散射光强谱图差异，快速、准 确的提供真实粒度分布
• 优化的检测器信噪比，大大提高了检测到散射光强谱图细微变化的能力
• 亚微米检测区域，应用6枚检测器对三种不同波长的光在垂直和水平偏振 方向上进行36个单独检测，提供纳米级颗粒优异的准确性和高分辨率 

多峰样品自动检测，更放心
• 凭借业界出众的技术，无需预估样品峰 型，无需选择分析模型，轻松准确分析 多峰样品，让您对测试结果更放心
• 准确性误差优于±0.5%
• 重复性误差优于±0.5%

重磅创新 真正实现纳米级测量
创新不止，重磅升级，基于升级版PIDS专利技术（发明专利：4953978，5104221），LS 13 320 XR真正实现纳米 级测量，提供亚微米颗粒更高分辨率的粒度分析，最低下限可准确检测至 10nm！
PIDS专利技术：偏振光强度差散射 发明专利: 4953978，5104221
传统方法测量亚微米颗粒的散射光强谱图在形状和强度 上都非常相似，区分比较困难，因此当测量亚微米颗粒 时，由于分辨率低而造成不准确的粒度测量。
而亚微米颗粒在水平和垂直偏振光下可形成差异的散射 谱图，而这些差异便是亚微米颗粒识别的重要信息。 PIDS技术采用了3种不同波长的光顺次照射样品，首先 为垂直偏振，然后为水平偏振，通过分析每个波长的水 平和垂直辐射光之间的差异，便可获得亚微米样品准确 的粒度分布信息。升级版PIDS专利技术从光源到滤波器 再到检测器都进行了全面的升级，使得测量亚微米颗粒 的动态范围和分辨率都得到了更大程度上的提高。