WinDENDRO年轮分析系统
产品名称： WinDENDRO年轮分析系统
英文名称：
产品编号： WinDENDRO
产品价格： 0
产品产地： Canada
品牌商标： Regent
更新时间： null
使用范围： null
- 联系人 : 沈经理
- 地址 : 上海市金沙江路1038号华东师大科技园2幢8楼
- 邮编 : 200062
- 所在区域 : 上海
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WinDENDRO年轮分析系统
WinDENDRO是利用高质量的图形扫描系统取代传统的摄象机系统。扫描系统能提供高分辨率的彩色图象和黑白图象。采
用专门的照明系统去除了阴影和不均匀现象的影响，有效的保证了图象的质量。增大了扫描区域，以供分析。还可以读取TIFF标准格式的图象。
组成：
* WinDENDRO年轮分析软件（基本版 / 标准版 / 专业版）For Win9x，WinMe，Win2000，WinXP
* XLSTEM茎杆分析插件（For MS-EXCEL）可选件
* 专业扫描仪
* 电脑（最低配置：Pentium III / 64 MB内存 / 17"显示器）用户自备
* 生长锥定位工具
技术指标：
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特 点 |
WinDENDRO版本 | ||
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基本版 |
标准版 |
专业版 | |
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水平、垂直方向测量年轮 |
Yes |
Yes |
Yes |
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延直线方向测量年轮（单节） |
Yes |
Yes |
Yes |
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年轮宽度测量 |
Yes |
Yes |
Yes |
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自动年轮监测方式（强度不同） |
Yes |
Yes |
Yes |
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通过扫描测量年轮 |
Yes |
Yes |
Yes |
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判断无效的年轮 |
Yes |
Yes |
Yes |
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图象对比度增强功能 |
Yes |
Yes |
Yes |
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彩色和黑白可调 |
Yes |
Yes |
Yes |
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测量年轮宽度时计算年轮角度 |
Yes |
Yes |
Yes |
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当样品有缺陷时，估算丢失的年轮 |
No |
Yes |
Yes |
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以各种方向测量年轮 |
No |
Yes |
Yes |
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测量复杂形状样品的年轮（多节） |
No |
Yes |
Yes |
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年轮宽度、十字交叉图象及相关性 |
No |
Yes |
Yes |
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幼苗宽度测量 |
No |
Yes |
Yes |
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用户可调节智能幼苗清晰度 |
No |
Yes |
Yes |
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每环的反射光测量 |
No |
Yes |
Yes |
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基于象素的数据 |
No |
Yes |
Yes |
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存储年轮宽度以"树心-边缘"/"边缘-树心" |
Yes/No |
Yes/Yes |
Yes/Yes |
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存储最后部分年轮 |
No |
Yes |
Yes |
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忽略缺口部分 |
No |
Yes |
Yes |
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讲述 & 演示年轮自动监测算法 |
No |
Yes |
Yes |
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针对年轮增加注释或观察资料 |
No |
Yes |
Yes |
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可自定义设置一些参数（例如：名字，类型等） |
No |
Yes |
Yes |
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可以测量其他设备采集到的图象（如：摄象机等） |
No |
Yes |
Yes |
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手工测量图象的边材宽度 |
No |
Yes |
Yes |
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年轮密度测量（最小值，最大值，平均值，方向） |
No |
No |
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