Zeta-ASP型电位分析仪-电化学仪器-仪器设备-生物在线
北京金恒祥仪器有限公司
Zeta-ASP型电位分析仪

Zeta-ASP型电位分析仪

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产品名称: Zeta-ASP型电位分析仪

英文名称:

产品编号: Zeta-ASP

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产品产地: 美国

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北京金恒祥仪器有限公司
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 此仪器容易使用、测量精确。对于高达60%(体积)浓度的样品,也无需进行稀释或样品前处理,即可直接测量甚至对于浆糊凝胶、水泥以及用其它仪器很难测量的材料都可直接进行测量。 

结构设计紧揍,外置的Zeta电位滴定装置(可选配)自动摘定装置可自动、快速地判断等电点,可快速得到最佳分散剂和絮凝剂。对粒度和双电层失真进行自动校正。该仪器的软件易于使用,通用性强,非常适用于科研及工厂的优化控制。 
典型应用:
综合稳定水泥浆,陶瓷,化学机械研磨,煤浆,涂料,化妆品,环境保护禅选法矿物富集,食品工业,乳胶,微乳,混合分散体系,纳米粉,无水体系,油漆成像材料。 
主要特点:
1)能分析多种分散物的混合体;
2)无需依赖Double Layer模式,精确地判定等电点;
3)可适用于高导电(highly conducting)体系;
4)可排除杂质及对样品污染的干扰;
5)可精确测量无水体系;
6)Zeta电位测试采用多频电声测量技术,无需先测量粒度即可进行电位测量;
7)样品的最高浓度可达60%(体积比),被测样品无需稀释,对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量;
8)具有自动电位滴定功能; 
优于光学方法的技术优势:
1)被测样品无需稀释;
2)排除杂质及对样品污染的干扰;
3)不需定标;
4)能分析多种分散物的混合体;
5)高精度;
6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um 
优于electroactics方法的技术优势:
1)无需定标;
2)能测更宽的粒径范围;
3)无需依赖Double Layer模式
4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲;
5)零表面电荷条件下也可测量粒径;
6)可适用于无水体系;
7)可适用于高导电(highly conducting)体系; 
优于微电泳方法的技术优势:
1)无需稀释,固合量高达60%;
2)可排除杂质及对样品污染的干扰;
3)高精度(±0.1mv);
4)低表面电荷(可低至0. 1mv);
5)electrosmotic flow不影响测量;
6)对流(convection)不影响测量;
7)可精确测量无水体系; 
技术参数:
1)所检测粒径范围宽:从5 nm至1000um;
2)可测量参数:粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减;
3)Zeta电位测量范围:+/-200 mv,低表面电荷(可低至0. 1mv),高精度(±0.1mv);
4)零表面电荷条件下也可测量粒径;
5)允许样品浓度:0.1-60%(体积百分数);
6)样品体积:30-230ml;
7)PH范围:0~14;
8)电导率范围:0~10 s/m