工业级自动化大样品原子力显微镜Nanite 无与伦比的精巧设计让其成为工业自动化应用的理想AFM。小于1nm的高分辨率，能用于微小表面结构检测和成像。高度自动化和联用多样性让质量控制提升至全新水平。Nanite可用于检测产品表面结构形貌或其他非形貌（如力学）特征等。工业级自动化大样品原子力显微镜Nanite是工程科研、生物材料研究、半导体制造等行业质量控制的首选设备。 特点 >自动化：通过软件编程和全自动样品台实现多样品自动测量 >灵活性: 多种AFM工作模式，不同工作平台，同时提供脚本编写界面实现自编程分析和控制 >安装便捷：可安装在不同样品台上或用户现有的其他仪器如纳米压痕仪、轮廓仪或加工设备等 >大样品：支持在线检测，对样品大小没有限制，可任意点检测 >独特的悬臂自定位技术，无需调整激光 >顶部/侧边双视窗CCD系统，便于探针定位和样品区域选择 >分区域测量样品，软件将图像拼接成整体 应用工业：表面检测，质量控制和自动测量普遍适用于: 需要自动测量或大样品测试的客户 自动化，大样品 工业级自动化大样品原子力显微镜Nanite AFM 对样品大小没有限制，其扫描头可安装于表面处理如铣、切、磨或抛光等生产设备上检测设备运行结果。 Nanosurf用户分布多行业如机械制造、材料处理、光学器件、半导体等，可与客户自有设备如压痕仪等联用。 自动质量控制 Nanite是一款专为自动化三维表面检测和多样品测试设计的原子力显微镜，其软件提供脚本编写界面结合X/Y/Z马达驱动的自动平台可以让您实现AFM自行检测、自动生成报告，为您节省时间和精力。 功能强大的软件 >提供软件脚本编写界面，让用户自己编写统计和处理数据的程序 >可自动生成专业报告，分析软件提供图像处理和分析功能，包括滤波、校正、针尖特征、力曲线、粗糙度，颗粒数量或高度的分析 >自动测量样品AFM图像矩阵并可拼接成一幅大图像

工业级自动化大样品原子力显微镜特点及用途：
专为工业应用设计，提供快速可靠的测量方案；
紧凑、小巧的设计，方便安装在工业设备上；
大扫描范围，对样品大小无限制；
可编程控制实现自动化扫描；
精确定位分区测量，软件拼接图像；
独特的悬臂自定位技术；
简单、易学的软件，多语言界面；
专业的分析、处理离线软件；
提供软件脚本编写界面；
提供专业分析报告、行业报告等。
另：可提供独特的无激光原子力显微镜，可用在光敏感材料测试。
工业级自动化大样品原子力显微镜主要技术指标：

工工业级自动化大样品原子力显微镜作模式：接触模式、F-Z模式、动态力模式、频率-幅值（f-RMS）曲线模式、幅值-距离（RMS-Z）曲线模式等。
可扩展力调制、扩展电阻、相对比、磁力、静电力模式等。

分辨率： XY 分辨率：0.15 nm
Z 分辨率：0.027 nm（10 μm扫描头）
XY 分辨率：1.7 nm
Z 分辨率：0.34 nm（110 μm扫描头）

参数性能：样品尺寸要求：无限制
XY扫描范围：10 μm×10 μm，可选110μm
Z向范围：2.0μm（对应XY-110 μmZ向范围为22 μm）
XY线性均差：<0.6%
Z向噪声：接触模式：0.07 nm（最大0.2 nm）
动态力模式：0.04 nm（最大0.07nm）
扫描角度：0 -360°
趋近方式：自动趋近
自动趋近范围：4.5 mm
动态模式频率范围：15-300 KHz（分辨率<0.1 Hz）
采样点：2048*2048
可选配样品台、防震台、自动移动平台及CCD等系统