纳米级多功能红外光谱系统
产品名称： 纳米级多功能红外光谱系统
英文名称： nanoIR
产品编号： nanoIR
产品价格： 0
产品产地： 美国
品牌商标： ANASYS
更新时间： null
使用范围： null
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NanoIR平台是由美国Anasys仪器公司所推出的一款基于AFM探针的检测工具，它可以在纳米尺度下揭示试样的化学组成。这项实验室解决方案集成了红外光谱和原子力显微镜的核心技术，使获得的红外光谱在空间分辨率上大大超越光学衍射极限。
除了可以揭示化学组成，nanoIR系统还可以对试样的局部形貌，机械性能，热学性能进行高分辨率表征。该系统潜在的应用范围横跨聚合物学，材料科学，生命科学以及对结构和性能关系深入研究的相关领域。
NanoIR
产品图片
NanoIR平台集成了连续可调红外光源和AFM检测模块，能够综合形貌分析和光谱测量对试样进行表征
如上图所示，试样固定在硒化锌棱镜上。用户可以通过视频显微镜快速发现其感兴趣的特征点。AFM探针针尖能够对试样形貌进行高分辨率表征，并检测试样的局部红外吸收。
如上图所示，旋起AFM测量头，即可轻松放入试样。试样更换方便，无需特殊工具。
主要技术参数
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频谱范围 |
900 cm-1~2000cm-1和2235 cm-1~3600cm-1 |
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光谱分辨率 |
~4 cm-1 |
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最大成像尺寸 |
80μm×80μm |
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光谱采集时间 |
~1分钟/光谱（或更少） |
参数可能会有所变更
多功能检测
NanoIR系统可以为您提供一个包含了表面形貌，分子光谱，机械性能和热学性能在内的全面的扫描成像分析。高分辨率形貌分析由AFM测试得到， 而局部化学表征则由增强光热诱导共振（PTIR）技术的红外光谱完成。PTIR技术也支持接触共振频率检测同时对可各种材料的成像分析。
（A）EAA和尼龙多层聚合物的AFM图像。（B）界面处的线性光谱扫描结果，显示了CH和NH的吸收峰。（C）化学组成和机械性能的同时表征。绿色曲线显示了在2900cm-1到2950cm-1之间CH键吸收强度，而蓝色曲线则显示了界面处机械刚度的相对变化。（D）纳米热分析模块测试（nanoTA）结果表明尼龙和EAA存在不同的软化温度。
仪器功能
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检测功能 |
功用 |
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光热诱导共振（PTIR） |
利用纳米红外光谱表征化学组分 |
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接触共振 |
同时进行机械性能的扫描成像 |
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AFM |
获取高分辨率表面形貌 |
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纳米热分析 |
检测局部热转变温度 |
PET和尼龙复合材料的多功能检测结果，包括AFM形貌测试，化学光谱信息，化学扫描成像和纳米热分析等。
NanoIR软件
美国Anasys仪器公司的nanoIR软件能够很容易获取纳米尺度下吸收光谱。首先，选定试样的一个区域，采集AFM图像，然后点击你希望获取红外光谱的位置。该软件能够自动记录你所点击的位置，从而让空间形貌和光谱信息之间的联系变得非常容易。同时，光谱也很容易被输送到第三方光谱分析软件。