PNI Nano-R2™ AFM 原子力显微镜
产品名称： PNI Nano-R2™ AFM 原子力显微镜
英文名称：
产品编号： Nano-R2™
产品价格： 0
产品产地： 美国
品牌商标： PNI
更新时间： null
使用范围： null
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技术参数
平板式探针扫描器
X-Y扫描：探针扫描( Tip Scan)
范围：>80um
线性：<1%
Z-Scan:
范围：>8um
分辨率：<0.1nm
彩色视频显微镜
放大倍数（19”监测器）：2000
自动放大/聚焦：4
视野：140um*190um
分辨率：1.5um
自动X-Y台：
范围：25.4 x 25.4 mm
步长：<3um
回转速率：2.5mm/sec
扫描模式：
—接触模式
—侧力模式
—振动模式
—非接触模式
—原料感模式
—力/距离模式
选配模式:
-电学模式(EFM/Kevin Probe) :非抬起模式, 采用独立的锁相放大器探测
-导电模式(SHARK):电流测量范围: fA-mA
-磁力模式
-摩擦力模式
-纳米刻蚀 Dip-Pen Nanolithography
-探针加热模式( SThM, 探针温度最高可达700摄氏度)
-全新纳米颗粒粒径分析软件
-恒温恒湿环境控制箱
—脉冲力模式 (Pulse Force Mode): 此为PNI公司独家开发出来, 针对软物质与黏弹性之测量
主要特点
* 闭环式扫描器, 定位精准, 误差小于1nm
* 具有两种扫描器可选用, 第一种是Light-Level扫描器, 第二种是Crystal Force 扫描器
* Crystal Force扫描器为太平洋纳米科技公司的专利, 具有不须校正激光光路, 快速扫描与操作容易等优点. 对于公用实验室与需要量测大量样品的客户, Crystal Force扫描器是最佳选择
* 可配置环境控制箱, 可控制环境的温度, 湿度与通气氛等强大功能
* 可选配电学模式, 导电模式, 磁力模式, 摩擦力模式, 纳米刻蚀 Dip-Pen Nanolithography, 探针加热模式(探针温度最高可达700摄氏度), 加热样品台, 液体池.
* Nano-Rp是美国太平洋纳米科技公司专门为分析纳米颗粒粒径分析的原子力显微镜, 包括:
全新NanoRule+颗粒粒径分析软件, 能够直接分析纳米等级的颗粒并绘制出 二维或三维纳米颗粒的图像
Nanoflat Substrates可以将纳米颗粒沉淀并固定在基底.