晶元表面分析仪
产品名称： 晶元表面分析仪
英文名称：
产品编号： Pioneer300series
产品价格： 0
产品产地： 韩国
品牌商标：
更新时间： null
使用范围： null
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1、The Pioneer 300 Wafer Surface Analysis System
（晶元表面分析仪）是专门为300毫米半导体晶元处理过
程的质量控制而设计的。
2、Pioneer 300提供在晶元表面上粘连，清理及表面处
理中的快速和准确接触角/面能的测量。
3、抗静电材料在Pioneer 300上的使用使其十分适合于
半导体应用。其内壁被特别设计来防止粒子形成或毒化使
该系统可被用于追踪硅晶元超净表面处理。
4、样品状态的位置被电脑控制并且可被沿X，Y，Z轴
准确较调，用户可容易控制状态的位置以允许晶元表面映
射。仪器通过PC使用微泵来控制液滴准确及可重现地形成
及应用。
5、所有这些保证可重现的液滴体积可用于表面。