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本次研讨会将主要介绍以下内容:
- 颗粒的基本概念、包括平均粒径等相关概念;
- 离线颗粒测量技术,在线颗粒测量技术及各自存在的优势和劣势;
- 帮助您充分了解颗粒变化对工艺过程变化产生的重要影响。
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作者:梅特勒-托利多(中国) 2007-11-16T00:00 (访问量:2973)
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